熱脫附儀進(jìn)樣墊引起的分析空白雜峰
熱解析儀進(jìn)樣墊引起的分析空白雜峰可能是由于以下原因引起的:
1. 進(jìn)樣墊污染:進(jìn)樣墊可能會(huì)受到樣品中高沸點(diǎn)組分或熱不穩(wěn)定組分的污染,導(dǎo)致出現(xiàn)雜峰。為了解決這個(gè)問(wèn)題,可以更換進(jìn)樣墊或?qū)ζ溥M(jìn)行清洗和老化。
2. 進(jìn)樣墊殘留物:進(jìn)樣墊中可能會(huì)殘留先前進(jìn)樣的樣品,導(dǎo)致出現(xiàn)雜峰。為了解決這個(gè)問(wèn)題,可以定期清洗和更換進(jìn)樣墊。
3. 進(jìn)樣墊碎片:進(jìn)樣墊可能在使用過(guò)程中被切割或撕裂,導(dǎo)致出現(xiàn)雜峰。為了解決這個(gè)問(wèn)題,可以檢查進(jìn)樣墊是否完好無(wú)損,并定期更換進(jìn)樣墊。
4. 熱解析儀漏氣:熱脫附儀的進(jìn)樣口或傳輸線(xiàn)可能存在漏氣現(xiàn)象,導(dǎo)致出現(xiàn)雜峰。為了解決這個(gè)問(wèn)題,可以檢查熱脫附儀的密封性能并修復(fù)漏氣部位。
5. 樣品中高沸點(diǎn)組分或熱不穩(wěn)定組分在熱脫附過(guò)程中未完全揮發(fā),導(dǎo)致出現(xiàn)雜峰。為了解決這個(gè)問(wèn)題,可以?xún)?yōu)化熱脫附條件,提高樣品中高沸點(diǎn)組分或熱不穩(wěn)定組分的揮發(fā)效率。
總之,針對(duì)熱脫附儀進(jìn)樣墊引起的分析空白雜峰問(wèn)題,需要仔細(xì)檢查進(jìn)樣墊、熱脫附儀和樣品本身,并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行解決。